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龙图腾网恭喜中国科学院地质与地球物理研究所;中地装(重庆)地质仪器有限公司申请的专利一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114879278B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210343194.X，技术领域涉及：G01V13/00；该发明授权一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法及系统是由徐锡强;郝天珧;钟沛江;梁曾设计研发完成，并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法及系统，该方法包括：构建曲率模型，并校正所述曲率模型；采样待校正目标的三维的实时加速度数据和三维的实时磁场强度数据；依次对待校正目标的三维的实时加速度数据和三维的实时磁场强度数据进行坐标系归一化、降维变换及平面拉伸，得到曲率变化后的实时磁场强度值；将曲率变化后的实时磁场强度值输入至校正后的曲率模型中，检索得到待校正目标对应的方位角。

本发明授权一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种磁场扭曲曲线的方位角校正方法，其特征在于，包括：构建曲率模型，并校正所述曲率模型；所述曲率模型的构建方法包括：设定旋转角速度和采样频率，按照设定采样率采样待校正目标以设定旋转角速度平面旋转的三维的第一加速度数据以及三维的第一磁场强度数据；对所述三维的第一加速度数据以及所述三维的第一磁场强度数据进行坐标系归一化处理；利用归一化后的三维的第一加速度数据对三维的第一磁场强度数据进行降维变换，得到二维的第一磁场强度值；基于所述二维的第一磁场强度值，计算第一平面拉伸校正系数；所述第一平面拉伸校正系数的计算方法为：遍历计算二维的第一磁场强度值的最大值与最小值，得到二维坐标轴的最大值和最小值；根据二维坐标轴的最大值、最小值及中间变量，计算第一平面拉伸校正系数；利用所述第一平面拉伸校正系数和所述二维的第一磁场强度值，计算曲率变化后的第一磁场强度值、第一方位角、曲线的第一绝对半径以及第一变采样率值，构建曲率模型；所述计算曲率变化后的第一磁场强度值、第一方位角、曲线的第一绝对半径以及第一变采样率值，构建曲率模型的步骤包括：利用所述第一平面拉伸校正系数对所述二维的第一磁场强度值进行平面拉伸，得到曲率变化后的第一磁场强度值；计算曲率变化后的第一磁场强度值构成的曲线的第一绝对半径；对曲率变化后的第一磁场强度值构成的曲线上的样点进行求解离散差分，得到曲线的第一绝对半径的变化率，将设定采样率乘以曲线的第一绝对半径的变化率，得到第一变采样率值；计算曲率变化后的磁场强度值对应的第一方位角；基于曲率变化后的第一磁场强度值、第一方位角、曲线的第一绝对半径、第一变采样率值，构建曲率模型；所述曲率模型的校正方法包括：按照计算得到的第一变采样率重新采样待校正目标以设定旋转角速度平面旋转的三维的第二加速度数据以及三维的第二磁场强度数据；对重新采样的三维的第二加速度数据和三维的第二磁场强度数据进行坐标系归一化处理；利用归一化后的三维的第二加速度数据对三维的第二磁场强度数据进行降维变换，得到二维的第二磁场强度值；基于所述二维的第二磁场强度值，计算第二平面拉伸校正系数；利用所述第二平面拉伸校正系数和所述二维的第二磁场强度值，计算曲率变化后的第二磁场强度值、第二方位角、曲线的第二绝对半径以及第二变采样率值，构建校正后的曲率模型；采样待校正目标的三维的实时加速度数据和三维的实时磁场强度数据；依次对待校正目标的三维的实时加速度数据和三维的实时磁场强度数据进行坐标系归一化、降维变换及平面拉伸，得到曲率变化后的实时磁场强度值；将曲率变化后的实时磁场强度值输入至校正后的曲率模型中，检索得到待校正目标对应的方位角。

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