恭喜爱芯元智半导体股份有限公司崔昭华获国家专利权
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龙图腾网恭喜爱芯元智半导体股份有限公司申请的专利芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115099186B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210784582.1,技术领域涉及:G06F30/398;该发明授权芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质是由崔昭华设计研发完成,并于2022-07-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标,确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标,运行待验证芯片,以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标,由此,通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能,可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标,符合真实的周期性传输性能。
本发明授权芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片验证方法,其特征在于,包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据所述传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;针对每个所述第一子时段,将所述第一子时段的时长和对应的第二子时段的时长进行相比,以得到时长比值;将各所述时长比值与对应的第一子时段的设定目标性能指标的乘积,作为所述对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各所述设定目标性能指标以及各所述期望目标性能指标,运行所述待验证芯片,以得到所述待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标。
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