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摘要:本发明涉及PCIE接口检测技术领域,公开了一种PCIE接口标准测试卡、主板检测治具及生产线,包括卡本体,卡本体上设置有测试系统,测试系统包括第一接口、PCIESwitch模块、SPI模块、MCU模块和供电接口,第一接口用于与测试主板上的PCIE接口连接;PCIESwitch模块与第一接口连接,用于对测试主板发送的高速PCIE信号进行检测;SPI模块与PCIESwitch模块连接,用于存储PCIESwitch模块的固件信息;MCU模块与PCIESwitch模块连接;本发明公开的PCIE接口标准测试卡、主板检测治具及生产线,能够解决FCT治具结构复杂,以及内部空间设计难度大的问题。
主权项:1.一种PCIE接口标准测试卡,其特征在于,包括卡本体(1),所述卡本体(1)上设置有测试系统,所述测试系统包括:第一接口(101),所述第一接口(101)位于所述卡本体(1)上沿其长度方向的一端,所述第一接口(101)用于与测试主板上的PCIE接口连接;PCIESwitch模块(102),与所述第一接口(101)连接,用于对所述第一接口(101)传输的测试主板发送的高速PCIE信号进行检测;SPI模块(103),与所述PCIESwitch模块(102)连接,用于存储所述PCIESwitch模块(102)的固件信息;MCU模块(104),与所述PCIESwitch模块(102)连接,用于对所述PCIESwitch模块(102)进行初始化操作;以及供电接口(105),与外部电源连接,用于供电;其中,通过所述SPI模块(103)来储存所述PCIESwitch模块(102)来检测高速PCIE信号的固件信息,并通过所述MCU模块(104)对所述PCIESwitch模块(102)进行初始化操作,从而所述PCIESwitch模块(102)能够对测试主板上不同功能的PCIE接口所输出的高速PCIE信号均能够进行检测;还包括转接治具(2),所述转接治具(2)上设置有第二接口(201)和第三接口(202),所述第二接口(201)适于与所述第一接口(101)插接,所述第三接口(202)适于与测试主板上的待测接口插接,所述第三接口(202)与所述第一接口(101)相同,或所述第三接口(202)与所述第一接口(101)不同,通过所述转接治具(2),能够将一种类型的所述第一接口(101)转换成各种所需的接口来与测试主板上不同类型的PCIE接口插接进行测试。
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