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摘要：本发明公开了一种芯片FT测试中检测OP失调校准方法及过流检测OCP校准方法，应用于FT测试电路，所述FT测试电路包括系统拉载电路、电阻R1、模拟接触阻抗R2、采样电阻R3、开关S1和外部运放U1，采样电阻R3的正端经串接电阻R1与芯片的CSP端电连接，采样电阻R3的负端经串接模拟接触阻抗R2与芯片的GNDCSN端电连接，开关S1与采样电阻R3并联，采样电阻R3的正端还分别与外部运放U1的正向输入端、所述系统拉载电路电连接，采样电阻R3的负端和外部运放U1的反向输入端分别接系统GND。
主权项：1.一种芯片FT测试中检测OP失调校准方法，应用于FT测试电路，其特征在于，所述FT测试电路包括系统拉载电路、电阻R1、模拟接触阻抗R2、采样电阻R3、开关S1和外部运放U1，采样电阻R3的正端经串接电阻R1与芯片的CSP端电连接，采样电阻R3的负端经串接模拟接触阻抗R2与芯片的GNDCSN端电连接，开关S1与采样电阻R3并联，采样电阻R3的正端还分别与外部运放U1的正向输入端、所述系统拉载电路电连接，采样电阻R3的负端和外部运放U1的反向输入端分别接系统GND，该方法包括如下步骤：步骤1，芯片上电，配置芯片的GPIO端输出低电平，测量GPIO端的电压值为V7；步骤2，闭合开关S1以短接芯片的CSP端和GNDCSN端，此时芯片有工作电流I1流经模拟接触阻抗R2，测量外部运放U1两端的电压差值为V2’；步骤3，实时监测外部运放U1两端的电压差，通过所述系统拉载电路拉载恒流I2来进行补偿，使得外部运放U1两端的电压差值补偿为V2’+V7。
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