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摘要:本申请公开了一种内存老化测试方法和内存老化测试装置,内存老化测试方法包括:在第一测试阶段,调整每一测试指令之间的指令间隔时间;获取每一指令间隔时间内被测内存产生的功耗值;将多个功耗值中最大功耗值对应的指令间隔时间作为第一测试阶段之后的第二测试阶段中的指令间隔时间。上述方案,通过确定出被测内存最大功耗值对应的指令间隔时间,使得在利用每一测试指令测试时,被测内存能够以更佳的功耗进行高温老化测试,提升老化测试的效果。
主权项:1.一种内存老化测试方法,其特征在于,所述方法包括:在第一测试阶段,调整每一测试指令之间的指令间隔时间;获取每一指令间隔时间内被测内存产生的功耗值;将多个功耗值中最大功耗值对应的指令间隔时间作为所述第一测试阶段之后的第二测试阶段中的指令间隔时间。
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百度查询: 上海江波龙数字技术有限公司 一种内存老化测试方法和内存老化测试装置
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