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摘要:本发明公开了嵌入式存储测试方法与设备,涉及存储芯片测试技术领域,包括搭建存储芯片组测试环境,包括搭建完整系统设备,在系统设备基础上拓展测试设备;通过测试设备对存储芯片组进行整机测试;在测试过程中,根据不同的整机测试的内容选择对应的测试方法和步骤,用于确保存储芯片组的适配稳定性和整体性能。通过搭建存储芯片组测试环境和整机测试设备,能够全面测试存储芯片组的各项性能,确保存储芯片组在不同应用场景中的适配稳定性,测试设备设置有原装存储芯片组位和测试存储芯片组位,通过自动排查功能,可以快速定位并解决存储芯片组的异常问题,省去了传统复杂的验证和排查过程,简化了测试流程,提高了测试效率。
主权项:1.嵌入式存储测试方法,其特征在于,包括:搭建存储芯片组测试环境,包括搭建完整系统设备,在系统设备基础上拓展测试设备;通过测试设备对存储芯片组进行整机测试,其中,整机测试的内容包括烧录读写测试、整机应用测试、性能测试、压力测试、兼容性测试和老化测试;在测试过程中,根据不同的整机测试的内容选择对应的测试方法和步骤,用于确保存储芯片组的适配稳定性和整体性能。
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