Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

嵌入式存储测试方法与设备 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

摘要:本发明公开了嵌入式存储测试方法与设备,涉及存储芯片测试技术领域,包括搭建存储芯片组测试环境,包括搭建完整系统设备,在系统设备基础上拓展测试设备;通过测试设备对存储芯片组进行整机测试;在测试过程中,根据不同的整机测试的内容选择对应的测试方法和步骤,用于确保存储芯片组的适配稳定性和整体性能。通过搭建存储芯片组测试环境和整机测试设备,能够全面测试存储芯片组的各项性能,确保存储芯片组在不同应用场景中的适配稳定性,测试设备设置有原装存储芯片组位和测试存储芯片组位,通过自动排查功能,可以快速定位并解决存储芯片组的异常问题,省去了传统复杂的验证和排查过程,简化了测试流程,提高了测试效率。

主权项:1.嵌入式存储测试方法,其特征在于,包括:搭建存储芯片组测试环境,包括搭建完整系统设备,在系统设备基础上拓展测试设备;通过测试设备对存储芯片组进行整机测试,其中,整机测试的内容包括烧录读写测试、整机应用测试、性能测试、压力测试、兼容性测试和老化测试;在测试过程中,根据不同的整机测试的内容选择对应的测试方法和步骤,用于确保存储芯片组的适配稳定性和整体性能。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浙江康盈半导体科技有限公司 嵌入式存储测试方法与设备

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。