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一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法 

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摘要:本发明涉及材料反射率测试技术领域,具体涉及一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法。包括如下步骤:步骤S1:对漫反射测试参数进行设置;步骤S2:在测试端口放置标准样品,即冠状低反射标准漫反射板,进行基线扫描和校零;步骤S3:取下冠状低反射标准漫反射板,放置测试样品,即涂覆低反射光吸收层的冠状零件进行测试;步骤S4:测得的数据,再乘以冠状零件的校准数据值,所得结果即为样品的反射漫数据;步骤S5:数据处理采用全谱段取算术平均值,即在400nm~1100nm的波长范围内,每隔5nm取反射率值,计算算术平均值来表征光吸收层的漫反射率。本发明可以相对计算出大角度入射情况下光吸收层的漫反射率,有利于表征入射光在入射角0°~60°时的漫反射情况。

主权项:1.一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:对漫反射测试参数进行设置;步骤S2:在测试端口放置冠状低反射标准漫反射板,进行基线扫描和校零;步骤S3:取下冠状低反射标准漫反射板,放置涂覆低反射光吸收层的冠状零件进行测试;步骤S4:测得的数据再乘以冠状零件的校准数据值,所得结果为样品的漫反射数据;步骤S5:数据处理采用全谱段取算术平均值,所述全谱段为400nm~1100nm的波长范围,每隔5nm取反射率值,计算算术平均值来表征光吸收层的漫反射率;所述步骤S1中的参数包括测试波长范围、纵坐标模式、平均时间、固定光谱带宽、数据间隔、狭缝高度以及基线校正;所述步骤S2与所述步骤S3中的冠状为凸球冠状,所述冠状低反射标准漫反射板的漫反射比小于3%。

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