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申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司
摘要：本发明提出一种最小脉冲宽度修复方法、装置、电子设备及存储介质，属于集成电路技术领域，方法包括：获取待测流程的静态时序分析阶段生成的违例报告；根据违例报告，判断待测流程是否存在最小脉冲宽度违例；若是，则依据各违例路径的时钟信号信息，选择芯片后端设计流程的一个设计阶段作为修复迭代阶段，并生成修复指导信息，以指示从修复迭代阶段进行芯片后端设计流程的迭代，并在修复迭代阶段应用修复指导信息。如此，对芯片后端设计过程中的最小脉冲宽度违例进行自动化修复，大大减轻了对经验的依赖，提高修复速度。同时，针对性地从导致违例的设计阶段进行修复，极大地提高了修复的精确性和修复效率。
主权项：1.一种最小脉冲宽度修复方法，其特征在于，所述方法包括：将已完成的当前次的芯片后端设计流程作为待测流程，并获取所述待测流程的静态时序分析阶段生成的违例报告；根据所述违例报告，判断所述待测流程是否存在最小脉冲宽度违例；其中，所述违例报告包括违例路径的时钟信号信息，所述违例路径为最小脉冲宽度违例的时钟路径；若是，则依据各所述违例路径的时钟信号信息，获得违例特征，根据所述违例特征，选择所述芯片后端设计流程的一个设计阶段作为修复迭代阶段，并生成修复指导信息，以对违例进行分类，并按违例类型对应的优先级顺序进行修复；其中，所述修复迭代阶段用于指示从所述修复迭代阶段进行芯片后端设计流程的迭代，所述修复指导信息用于指示在所述修复迭代阶段应用所述修复指导信息。
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百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 最小脉冲宽度修复方法、装置、电子设备及存储介质
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