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申请/专利权人：史密斯探测法国股份公司

摘要：在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。

主权项：1.一种用于利用X射线检查货物的方法，该方法包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描所述货物，包括：利用相互扫描移位，使所述货物和所述矩阵相互移位；以及在所述相互扫描移位期间，利用所述矩阵检测由照射所述货物的多个连续X射线脉冲产生的辐射；其中，所述货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射；以及其中，对应于所述第一X射线脉冲的辐射由所述矩阵的第一行检测，并且对应于所述至少一个第二脉冲的辐射由所述矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像，其中，每个图像包括与针对每个X射线脉冲的检测器的所述行相对应的像素；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位，确定所述货物与所述矩阵之间的至少一个局部相互寄生移位，所述局部相互寄生移位：发生在所述第一X射线脉冲和所述至少一个第二X射线脉冲之间；以及不同于在所述第一X射线脉冲和至少一个第二脉冲之间发生的所述相互扫描移位；从与所述货物的所述扫描的开始相关联的X射线脉冲到与所述货物的所述扫描的结束相关联的X射线脉冲，通过针对所被照射区域的所确定的局部相互移位求和，确定至少一个总相互寄生移位；以及基于所述第一图像和所述至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的至少一个总相互寄生移位，生成所述货物的至少一个校正图像。

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