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申请/专利权人:武汉市聚芯微电子有限责任公司
摘要:本申请提供一种时间间隔测试电路、时间间隔测试方法以及测距系统,时间间隔测试电路包括时间间隔记录模块;延时模块,延时模块与时间间隔记录模块连接,延时模块用于输出具有预设时间间隔的计时信号和延时记录信号;其中,时间间隔记录模块根据计时信号和延时记录信号记录测试时间间隔,以根据预设时间间隔和测试时间间隔判断时间间隔记录模块的精度。本申请通过延时记录信号替代单光子雪崩二极管产生的信号来触发时间间隔记录模块,从而可以对时间间隔记录模块进行无激光源、无单光子雪崩二极管的测试标定过程,进而对于时间间隔记录模块的测试可以不用在整个ToF模组封装完成后再进行,以避免模组上其他芯片和封装物料的浪费现象。
主权项:1.一种时间间隔测试电路,其特征在于,包括:时间间隔记录模块;延时模块,所述延时模块与所述时间间隔记录模块连接,所述延时模块用于输出具有预设时间间隔的计时信号和延时记录信号;其中,所述时间间隔记录模块根据所述计时信号和所述延时记录信号记录测试时间间隔,以根据所述预设时间间隔和所述测试时间间隔判断所述时间间隔记录模块的精度;所述时间间隔记录模块包括:参考时钟子模块,所述参考子时钟模块具有固定的运行周期;计数子模块,所述计数子模块与所述参考时钟子模块连接;计时子模块,所述计时子模块与所述计数子模块连接;其中,所述计数子模块根据所述计时信号开始记录所述参考时钟子模块的运行周期数,所述计时子模块根据所述延时记录信号存储当前时间所述计数子模块的记录结果作为所述测试时间间隔。
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百度查询: 武汉市聚芯微电子有限责任公司 时间间隔测试电路、时间间隔测试方法以及测距系统
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