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申请/专利权人：西安近代化学研究所
摘要：本发明涉及一种平面分子晶体层状堆积模式的识别方法。通过计算平面分子的环数、重原子个数、偶极矩和分子表面静电势的最小值和计算的π‑π2max来建立预测π‑π2max的理论模型，再通过预测的π‑π2max的值定量识别平面分子晶体的堆积模式。本发明建立从分子特征到晶体堆积模式的桥梁，开发了一种识别平面分子晶体层状堆积模式的理论方法。本发明提供的方法可实现快速区分平面分子的堆积模式是层状或非层状。该方法有助于加速新型层状含能材料的发现。
主权项：1.一种平面分子晶体层状堆积模式识别模型的构建方法，其特征在于，方法包括：1获取多个平面分子的偶极矩Dipole_moment、分子表面静电势的最小值ESPmin、环的个数RingNum和重原子个数HeavyAtomNum以及相应平面分子晶体中心分子与距中心分子以内的分子之间π-π作用最强的二聚体相互作用能π-π2max；2统计步骤1环个数相同的平面分子的π-π2max，并确认不同环个数平面分子的π-π2max阈值；3以π-π2max为因变量，同时以偶极矩、分子表面静电势的最小值和重原子个数为自变量，对步骤1获得的数据进行拟合得到平面分子π-π2max的预测模型；所述不同环个数平面分子的π-π2max阈值以及平面分子π-π2max的预测模型构成平面分子晶体层状堆积模式识别模型。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安近代化学研究所 一种平面分子晶体层状堆积模式的识别方法
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