Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:斯考拉股份公司

摘要:本发明涉及一种用于测量扁的或条状的、特别是管状的物体的几何参数、特别是内径和或外径和或壁厚的测量设备,包括收发器,收发器具有用于将太赫兹辐射发射到物体上的发射装置,太赫兹辐射至少部分地被物体反射,并且具有用于接收由发射装置发射到物体上的太赫兹辐射的接收装置,测量设备是操作人员可携带的,其中,测量设备具有保持件,保持件一方面承载收发器且另一方面承载反射器,反射器用于将由发射装置发射的太赫兹辐射在透射物体的至少一个区段之后反射,保持件构造成使得测量设备为了测量物体的几何参数能这样安放到物体上,使得收发器和反射器在物体的不同侧上或者在物体的壁的不同侧上彼此对置。本发明还涉及一种相应的方法。

主权项:1.一种用于测量扁的或条状的、特别是管状的物体24的几何参数、特别是内径和或外径和或壁厚的测量设备,所述测量设备包括收发器10,所述收发器具有用于将太赫兹辐射发射到所述物体上的发射装置,所述太赫兹辐射至少部分地被所述物体24反射,并且所述收发器具有用于接收由所述发射装置发射到所述物体24上的太赫兹辐射的接收装置,其中,所述测量设备是对于操作人员而言可携带的测量设备,其特征在于,所述测量设备具有保持件14、30、34,所述保持件一方面承载所述收发器10并且另一方面承载反射器16、32,所述反射器用于将由所述发射装置发射的太赫兹辐射在透射所述物体24的至少一个区段之后反射,所述保持件14、30、34构造成,使得所述测量设备为了测量所述物体24的几何参数能这样安放到所述物体24上,使得所述收发器10和所述反射器16、32在所述物体24的不同侧上或者在所述物体24的壁的不同侧上彼此对置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 斯考拉股份公司 用于测量物体的几何参数的测量设备和方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

相关技术
相关技术
相关技术