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申请/专利权人:浙江汇隆晶片技术有限公司
摘要:本实用新型为解决现有晶振检测设备没有筛选结构的问题,提供一种检测台上的不合格晶振筛选结构,包括用于检测晶振的检测台以及用于移动晶振的第一移动抓手;第一移动抓手与检测台对应设置;还包括筛选结构;筛选结构设置于第一移动抓手的移动轨迹上;筛选结构包括次品盒;次品盒上设置有至少一个用于承载不合格晶振的格子;方便不合格的晶振落入到次品盒上的格子中,实现筛选。
主权项:1.一种检测台上的不合格晶振筛选结构,包括用于检测晶振的检测台(1)以及用于移动晶振的第一移动抓手(2);第一移动抓手(2)与检测台(1)对应设置;其特征在于,还包括筛选结构(3);筛选结构(3)设置于第一移动抓手(2)的移动轨迹上;筛选结构(3)包括次品盒(31);次品盒(31)上设置有至少一个用于承载不合格晶振的格子(311)。
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权利要求:
百度查询: 浙江汇隆晶片技术有限公司 一种检测台上的不合格晶振筛选结构
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