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可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构及其制作方法 

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申请/专利权人:华天科技(昆山)电子有限公司

摘要:本发明公开了一种可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构的制作方法,包括如下步骤:取一硅基板,在该硅基板上开设TSV孔,该TSV孔为盲孔,且其上部为倒角结构;在TSV孔中形成向硅基板对应于倒角结构的一面延伸覆盖的复合线路结构;在复合线路结构上键合支撑基板,然后对硅基板的另一面进行减薄,直至复合线路结构暴露;在硅基板的远离复合线路结构的一侧开设凹槽,在凹槽中贴装芯片;在硅基板的远离复合线路结构的一侧形成线路导出结构。本发明通过倒角结构的TSV孔可降低孔底应力,减少对绝缘层的影响,并可避免绝缘层以及金属线路层材料在TSV孔的孔口处出现堆积的问题;本发明可提高扇出封装结构的良率,节约封装成本。

主权项:1.一种可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:S1,取一硅基板,在该硅基板上开设小孔径深比的TSV孔,该TSV孔为盲孔,且其上部为倒角结构;S2,在所述TSV孔中形成向硅基板对应于倒角结构的一面延伸覆盖的复合线路结构;S3,在该复合线路结构上键合支撑基板,然后对硅基板的另一面进行减薄,直至TSV孔中的复合线路结构暴露;S4,在硅基板的远离复合线路结构的一侧开设凹槽,在该凹槽中贴装芯片;S5,在硅基板的远离复合线路结构的一侧上形成线路导出结构。

全文数据:

权利要求:

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