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光学元件生产数据处理方法及系统 

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申请/专利权人:南京格奥光电科技有限公司

摘要:本申请提供一种光学元件生产数据处理方法及系统,涉及光学元件检测技术。在该方法中,电子设备将传感器设备上传的待加工光学元件的厚度数据和光学元件加工区域的工艺参数数据输入预设的光学元件质量预测模型进行预测处理,得到待加工光学元件在光学元件加工区域加工完成时的预测厚度数据,以确定待加工光学元件在光学元件加工区域加工是否会出现质量问题。通过应用该方法,能够有效提升光学元件的质量。

主权项:1.一种光学元件生产数据处理方法,其特征在于,包括:基于传感器设备上传的数据,获取待加工光学元件的厚度数据和光学元件加工区域的工艺参数数据,所述工艺参数数据包括所述光学元件加工区域的温度数据、湿度数据、压强数据以及所述待加工光学元件在加工时所受压力数据和光学环境数据;将所述待加工光学元件的厚度数据和所述工艺参数数据输入预设的光学元件质量预测模型,得到所述待加工光学元件在所述光学元件加工区域加工完成时的预测厚度数据,所述光学元件质量预测模型是预先基于群体智能优化算法对机器学习模型进行优化训练得到的,用于预测待加工光学元件在光学元件加工区域加工完成时厚度数据的模型;根据所述预测厚度数据,确定所述待加工光学元件在所述光学元件加工区域加工是否会出现质量问题。

全文数据:

权利要求:

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