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申请/专利权人：常州小为光电科技有限公司
摘要：本发明公开了，平面光流测距仪的高精度测量方法、装置、扫描仪及存储介质，将平面光流测距仪底部与被测物接触，其中，所述发光二极管发出光线并照射在所述被测物体；通过所述图像传感器收所述发光二极管照射在被测物体的所述图像；将所述平面光流测距仪与所述被测物接触并移动，在此过程中产生的多个不同的所述图像传送给所述图像处理器；通过所述图像处理器内的所述光学引擎对所述图像进行数字化处理；通过所述光学引擎中的所述定位芯片对多个不同的所述图像数字矩阵进行分析并计算出平面光流测距仪运动距离。本发明避免了测量人员由于手工测量带来的误差，减少测量人员工作量，加快测量速度、提高测量精度。
主权项：1.一种高精度平面光流测距仪测量方法，其特征在于，所述方法包括：第一步，将平面光流测距仪底部与被测物接触，其中，所述发光二极管发出光线并照射在所述被测物体；第二步，通过所述图像传感器接收所述发光二极管照射在被测物体的所述图像；第三步，将所述平面光流测距仪在所述被测物表面移动，在此过程中所述图像传感器将接收到多个不同的所述图像；第四步，通过所述图像处理器对多个不同的所述图像两两匹配，获取所述平面光流测距仪的相对位移；第五步，通过所述平面光流测距仪的相对位移在检测时间内的累加，获取所述平面光流测距仪运动距离，所述运动距离即为待测距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 常州小为光电科技有限公司 平面光流测距仪的高精度测量方法、装置、扫描仪及存储介质
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