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一种TOFD图谱特征检测方法 

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申请/专利权人:绍兴市特种设备检测院

摘要:本发明公开了一种TOFD图谱特征检测方法,包括以下步骤:S1:获取TOFD图谱;S2:对TOFD图谱进行特征标记;S3:将标记完成的TOFD图谱随机分为训练集与验证集;S4:建立目标检测模型,将训练集输入目标检测模型进行训练;S5:通过验证集对经过训练后的目标检测模型进行验证;S6:部署经过验证的目标检测模型。TOFD图谱只需进行特征标记而无需进行预处理,减少了工作量。目标检测模型的检测效率高,进一步减少了人员的工作量。同时模型还支持视频输入,能够部署在工控机上实现在线检测。

主权项:1.一种TOFD图谱特征检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:获取TOFD图谱;S2:对TOFD图谱进行特征标记;S3:将标记完成的TOFD图谱随机分为训练集与验证集;S4:建立目标检测模型,将训练集输入目标检测模型进行训练;S5:通过验证集对经过训练后的目标检测模型进行验证;S6:部署经过验证的目标检测模型;所述训练的具体步骤为:S4a:调整输入图像为三通道640×640大小;S4b:进行两次的二维卷积模块处理;S4c:进行C2f处理;S4d:进行SPPF池化层;S4e:特征融合处理;所述二维卷积模块处理包含一次二维卷积、一个二维BatchNorm+处理和一次SiLU激活函数处理,所述的二维卷积中卷积核为3×3,卷积后的图像大小为160×160×128,卷积后的图像大小的计算公式为:其中W为输入矩阵的大小,F为卷积核的大小,P为填充的大小,S为步长,N为输出矩阵的大小,所述C2f处理包含一个CBS卷积层,一个split层,两个bottleneck层,一个Concat层以及一个CBS卷积层,所述后一个CBS卷积层输出为160×160×128,且卷积核为1×1,所述SPPF池化层包括依次进行的一次CBS卷积模块处理和三次Maxpooling处理,所述特征融合处理包括:将经过SPPF池化层的特征进行上采样,输出大小为320×320,并与第一次Conv2处理后的数据进行经过一次Concat后再进行一次C2f处理,得到第一组特征信息,输入检测头一;第一组特征Conv2处理后与第一次Conv处理结果进行Concat与C2f处理后得到第二组特征信息,大小为320×320,输入检测头二;所述特征融合处理中损失函数采用BCELoss、CIoULoss和DFL三种损失函数的加权平均作为损失值,BCELoss用来计算分类损失,CIoULoss和DFL用来计算预测框损失,计算公式为:DFLSi,S+1=-yi+1-ylogSi+y-yilogSi+1其中y为真实值,yi+1与yi为y的两个最近邻; IoU为真实框与预测框的交并比,w、h分别为预测框的宽和高;α是权重函数,v能够度量长宽比的相似性; 其中y是真实值,是预测值。

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