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申请/专利权人：上海壁仞科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种芯片固件校验方法及装置，所述方法包括：确定芯片中待校验固件的多个校验时刻，至少一个校验时刻处于芯片的运行期间；在各校验时刻下，确定待校验固件在各校验时刻下的计算哈希值；比对各校验时刻下的计算哈希值与待校验固件的合法哈希值，确定待校验固件在各校验时刻下的校验结果。本发明提供的芯片固件校验方法及装置，确定的是待校验固件的多个校验时刻，也即本发明不是只对待校验固件进行一次校验，而是进行多次校验，且至少一个校验时刻处于芯片运行期间，从而可以避免在芯片运行时，增加攻击者意图逃避检测的难度，进一步提高了芯片运行时对待检验固件的防护能力，避免待校验固件被非法篡改后所带来的安全风险。
主权项：1.一种芯片固件校验方法，其特征在于，包括：确定芯片中待校验固件的多个校验时刻，至少一个校验时刻处于所述芯片的运行期间；在各校验时刻下，确定所述待校验固件在各校验时刻下的计算哈希值；比对各校验时刻下的计算哈希值与所述待校验固件的合法哈希值，确定所述待校验固件在各校验时刻下的校验结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海壁仞科技股份有限公司 芯片固件校验方法及装置
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