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申请/专利权人：晶方云(广东)测试设备有限公司
摘要：本实用新型涉及一种用于切换芯片测试功能的电路，包括待测芯片模块、切换电路矩阵模块、测量模块一、测量模块二和接地隔离电路，待测芯片的待测管与切换电路矩阵模块的公共端相连接，测量模块一与测量模块二通过电路矩阵模块中常闭端和常开端的切换来分别连接到待测芯片；切换电路矩阵模块、测量模块一与接地隔离电路连接。有益效果在于：本实用新型的电路在切换电路矩阵模块与测量模块二连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地；此设计将测量信号与地分离，同时避开了该电路在切换至与直流测量组件连接后，由于电子开关中存在保护二极管而导致直流功能测量中的测不准、漏电流和无法测到开路的情况，以达到良好准确的测量效果。
主权项：1.一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于，包括：待测芯片模块、切换电路矩阵模块、测量模块一、测量模块二和接地隔离电路，其中，所述待测芯片模块与切换电路矩阵模块连接；所述切换电路矩阵模块通过切换电路分别与测量模块一和测量模块二单独连接，切换电路矩阵模块与接地隔离电路连接，测量模块一与接地隔离电路连接；所述切换电路矩阵模块使用的开关为电子开关；所述切换电路矩阵模块与测量模块二连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 晶方云(广东)测试设备有限公司 一种用于切换芯片测试功能的电路
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