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申请/专利权人:中国科学院国家授时中心
摘要:本发明涉及一种基于介电常数近零现象的里德堡原子微波测量装置及方法,属于量子精密测量领域。所述装置中,原子样品居中处于超窄矩形金属波导的通道内部,形成包含所述原子样品的ENZ通道;待测微波以ENZ模式在ENZ通道内隧穿而过;探测光和所述耦合光共线相向传播,激励原子样品进入里德堡态,产生单一EIT透射峰;ENZ通道内隧穿的待测微波频率与耦合两里德堡态的微波跃迁频率一致;待测微波电场诱导单一EIT透射峰发生AT分裂,通过测量分裂宽度,计算得到ENZ通道中的微波电场信息。本发明具有微波均匀区长、微波电场可显著增强以及可扩展性强等特点,采用本发明装置及方法,能够提高微波探测灵敏度,尤其适用于极弱微波功率的探测或测量。
主权项:1.一种基于介电常数近零现象的里德堡原子微波测量装置,其特征在于,包括:原子样品、超窄矩形金属波导、两个微波耦合器、两个反射镜、探测光、耦合光以及光探测器;所述两个微波耦合器包括第一微波耦合器和第二微波耦合器;所述两个反射镜包括第一反射镜和第二反射镜;所述原子样品居中处于所述超窄矩形金属波导的通道内部,包含所述原子样品的超窄矩形金属波导通道工作在ENZ模式,形成包含原子样品的ENZ通道;所述第一微波耦合器和所述第二微波耦合器分别连接于所述ENZ通道两侧,用以实现无损地馈入和或引出待测微波;所述待测微波以ENZ模式在所述ENZ通道内隧穿而过;所述第一微波耦合器和所述第二微波耦合器的外端面中央均开有小孔,用以供所述探测光和所述耦合光通过;所述探测光和所述耦合光各自经所述第一反射镜和所述第二反射镜反射后进入所述ENZ通道,所述探测光和所述耦合光共线相向传播,激励所述原子样品进入里德堡态,产生单一EIT透射峰;所述ENZ通道内的待测微波电场频率与耦合两里德堡态的微波跃迁频率一致,所述待测微波电场诱导所述单一EIT透射峰发生AT分裂,分裂宽度携带了所述ENZ通道中的微波电场信息,通过所述光探测器收集到的所述探测光予以提取。
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