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基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统及检测方法 

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申请/专利权人:创新奇智(合肥)科技有限公司

摘要:本发明公开一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统,该成衣印花缺陷检测系统基于多曝光成像技术,通过对待检测的印花样本进行多曝光拍摄,形成多张不同曝光拍摄模式下对应的曝光图,然后将各张曝光图与在同一曝光拍摄模式下拍摄的基准曝光图进行逐一的缺陷比对,最终得到对印花样本的缺陷检测结果,本发明实现了对印花缺陷检测的全自动化,整个检测过程快速、高效,无需借助质检员以往的质检经验,所作出的印花缺陷检测结果更加准确、客观。本发明还提供给了一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测方法。

主权项:1.一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统,其特征在于,包括:第一曝光模块,用于对确定合格的印花成品进行曝光拍摄,得到一对应所述印花成品的曝光基准值,并用于根据所述曝光基准值设定多个曝光值对所述印花成品继续进行曝光拍摄,得到每个所述曝光值拍摄模式下对应的曝光模板图;曝光模板图存储模块,连接所述第一曝光模块,用于存储各所述曝光模板图;第二曝光模块,用于根据设定的所述曝光值对待检测的印花样本进行多次曝光拍摄,得到所述印花样本在各所述曝光值拍摄模式下拍摄的多张曝光图;曝光图存储模块,连接所述第二曝光模块,用于存储所述曝光图;印花缺陷检测模块,分别连接所述曝光模板图存储模块和所述曝光图存储模块,用于将在同一个所述曝光值拍摄模式下拍摄的所述曝光模板图和所述曝光图进行图像比对,得到对应所述印花样本的多个印花缺陷比对结果并存储;印花缺陷检测结果形成模块,连接所述印花缺陷检测模块,用于根据各所述印花缺陷比对结果,形成最终的关联于所述印花样本的印花缺陷检测结果并输出。

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权利要求:

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