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申请/专利权人：芯梦达半导体科技(济南)有限公司
摘要：本发明属于功率器件开关速度测量技术领域，具体公开了一种GaN器件开关速度的评估方法及系统，方法包括：搭建GaN十六参数小信号模型，计算得到GaN十六参数小信号模型中的各个参数值；构建Angelov模型，基于GaN器件的转移特性曲线、输出特性曲线以及GaN十六参数小信号模型中的各个参数值，拟合得到Angelov模型中各参数的值；将Angelov模型输入到SDD模型，得到GaN器件大信号模型；搭建开关电路模型，将GaN器件大信号模型作为开关电路中的开关管；获取所述开关电路的输出波形，基于所述输出波形评估GaN器件的开关速度。本发明可以在搭建的开关电路中仿真得到该GaN器件的开关速度，简便易操作且成本低。
主权项：1.一种GaN器件开关速度的评估方法，其特征在于，包括：分别测量得到GaN器件的转移特性曲线、输出特性曲线以及GaN器件在不同工作电压和频率下的S参数；搭建GaN十六参数小信号模型，基于GaN器件在不同工作电压和频率下的S参数，计算得到GaN十六参数小信号模型中的各个参数值；构建Angelov模型，基于GaN器件的转移特性曲线、输出特性曲线以及GaN十六参数小信号模型中的各个参数值，拟合得到Angelov模型中各参数的值；搭建SDD模型，将Angelov模型输入到SDD模型，得到GaN器件大信号模型；搭建开关电路模型，将GaN器件大信号模型作为开关电路中的开关管；获取所述开关电路的输出波形，基于所述输出波形评估GaN器件的开关速度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 芯梦达半导体科技(济南)有限公司 一种GaN器件开关速度的评估方法及系统
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