买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：芯河半导体科技(无锡)有限公司

摘要：本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置，包括总线激励发生器、总线监测分析逻辑器、效率分析逻辑器和地址映射配置逻辑器和DDR逻辑器，总线激励发生器用于产生对DDR逻辑器的访问激励，总线监测分析逻辑器实时监测总线激励发生器对DDR逻辑器的读写行为并输出相关监测数据，效率分析逻辑器收集总线监测分析逻辑器产生的数据并计算效率情况然后输出相关数据，地址映射配置逻辑器收集效率分析逻辑器产生的数据进行分析并决定是否调整配置参数重新启动测试。本发明根据测试结果自动调整DDR地址映射配置参数，直至输出DDR最佳效率配置参数，可以避免DDR上下游测试人员之间的信息交流误差。

主权项：1.一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试方法，其特征在于：该方法为采用一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置进行测试的方法，所述自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置，包括总线激励发生器1、总线监测分析逻辑器2、效率分析逻辑器3和地址映射配置逻辑器4和DDR逻辑器5，所述的总线激励发生器1用于产生对DDR逻辑器5的访问激励，总线监测分析逻辑器2实时监测总线激励发生器1对DDR逻辑器5的读写行为并输出相关监测数据，效率分析逻辑器3收集总线监测分析逻辑器2产生的数据并计算效率情况然后输出相关数据，地址映射配置逻辑器4收集效率分析逻辑器3产生的数据进行分析并决定是否调整配置参数重新启动测试；该方法包括如下步骤：1总线监测分析逻辑器2根据现有的地址映射配置对总线激励发生器1产生的总线地址进行转换，分析总线地址的转换情况并记录；总线监测分析逻辑器2统计总线激励发生器1对DDR逻辑器5访问激励的消耗时间；2效率分析逻辑器3根据总线监测分析逻辑器2输出的转换地址分布情况计算并统计出PH、PFH和PM三种访问在一轮测试中所占的比例；效率分析逻辑器3获取总线监测分析逻辑器2输出的消耗时间数据，计算出一轮测试中读写的平均消耗时间和最大消耗时间以及带宽；3地址映射配置逻辑器4根据效率分析逻辑器3输出的DDR的综合效率情况，结合总线监测分析逻辑器2产生的PH、PFH和PM分布情况自动生成新的地址映射配置，并将该配置写入DDR逻辑器5的配置参数中，自动启动总线激励发生器1展开新一轮测试；地址映射配置逻辑器4自动与上一轮的测试结果进行对比，并记录效率表现配置参数，重复测试直到效率无明显提升时退出测试循环；DDR的综合效率情况为：E＝[BW，LATavr，LATmax，LATpercent]公式1；公式1中的E表示综合效率，BW表示带宽，LATavr表示平均消耗时间，LATmax表示最大消耗时间，LATpercent表示消耗时间分布百分比。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 芯河半导体科技(无锡)有限公司 一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置及方法