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申请/专利权人：杭州邦齐州科技有限公司
摘要：本发明公开了一种微纳光栅阴极组件多角度检验治具，涉及微纳光栅阴极组件检验治具技术领域，包括顶部治具、中部治具及底部治具；顶部治具用于夹持产品；中部治具设置于顶部治具下方，并与顶部治具形成能够绕第一轴线转动的转动连接；底部治具与中部治具形成能够绕第二轴线转动的转动连接，第一轴线与第二轴线具有夹角。本发明提供的微纳光栅阴极组件多角度检验治具，便于在空间上对AVGG进行多角度检测，提升对于AVGG检测的准确性。
主权项：1.一种微纳光栅阴极组件多角度检验治具，其特征在于：包括：顶部治具11，用于夹持产品2；中部治具12，设置于所述顶部治具11下方，并与所述顶部治具11形成能够绕第一轴线转动的转动连接；及底部治具13，与所述中部治具12形成能够绕第二轴线转动的转动连接，所述第一轴线与所述第二轴线具有夹角。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州邦齐州科技有限公司 一种微纳光栅阴极组件多角度检验治具
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