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申请/专利权人：西安理工大学
摘要：本发明公开了用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法，包括步骤1，对相机所拍摄的条纹图像进行计算得到截断相位；步骤2，将截断相位进行相位展开；步骤3，分别计算有测量目标的展开相位与无测量目标的展开相位，并得到两者的差；步骤4，根据两者的差值计算，得到测量目标的三维高度信息。该用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法，能够有效获取相机全视场范围内每个像素坐标对应相位高度映射的参数，解决现有二次隐式相位高度映射法在部分区域可能出现无法有效获取参数的问题。
主权项：1.用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：步骤1，对相机所拍摄的条纹图像进行计算得到截断相位ψwrap；步骤2，通过相位展开算法对截断相位ψwrap进行相位展开，得到展开相位ψ；步骤3，使用步骤1和步骤2分别计算有测量目标的展开相位与无测量目标的展开相位，有测量目标的展开相位记为ψtarget，无测量目标的展开相位记为ψno，并根据公式1得到其差，记为Δψ；Δψ＝ψtarget-ψno1步骤4，将Δψ代入公式2中，得到测量目标的三维高度信息，记为； 其中：k1,k2,k3为相位高度映射得到的参数，通过GRNN得到k1,k2,k3。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安理工大学 用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法
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