买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:重庆电子科技职业大学
摘要:本发明公开了一种多通道集成电路CP测试方法及系统,包括:首先获取上位机发送的测试指令,通过解析测试指令确定测试对应测试参数。然后,根据所述测试参数生成相应的测试信号,依次将测试信号传输给所述待测集成电路的各个待测通道,激励待测集成电路输出相应的反馈信号,并对所述反馈信号进行检测,获取各待测通道对应的检测数据。最后,分别将各待测通道对应的检测数据中的电压数据和电容数据分别与正常电压参数范围和正常电容值范围进行比较,如果电压数据和电容数据均在正常参数范围内,则待测通道为正常通道,反之则为异常通道。如此即可实现集成电路的各待修调通道的自动测试,提高多通道集成电路的CP测试效率。
主权项:1.一种多通道集成电路CP测试方法,其特征在于,包括:获取上位机发送的测试指令,并对所述测试指令进行解析,确定与待测集成电路相对应的测试参数;根据所述测试参数生成相应的测试信号,依次将测试信号传输给所述待测集成电路的各个待测通道,激励待测集成电路输出相应的反馈信号,并对所述反馈信号进行检测,获取各待测通道对应的检测数据;分别对各待测通道的检测数据进行分析,确定待测集成电路中的异常通道。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 重庆电子科技职业大学 多通道集成电路CP测试方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。