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申请/专利权人:北京集创北方科技股份有限公司
摘要:本公开涉及闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备,该方法包括:从闪存的待测试区域中读取第一数据;根据所述第一数据生成测试向量;根据所述测试向量对闪存进行数据写入操作,使所述待测试区域中存储有第二数据;从所述待测试区域中读取所述第二数据,根据所述第二数据与所述测试向量是否一致,确定针对所述待测试区域的测试结果。根据本申请实施例,可以实现在对待测试区域的功能进行测试时,减少闪存擦除次数,节约时间,提高闪存的使用寿命,还可以防止非待测试区域的数据被误修改。
主权项:1.一种闪存测试方法,其特征在于,所述方法包括:从闪存的待测试区域中读取第一数据;根据所述第一数据生成测试向量;根据所述测试向量对闪存进行数据写入操作,使所述待测试区域中存储有第二数据;从所述待测试区域中读取所述第二数据,根据所述第二数据与所述测试向量是否一致,确定针对所述待测试区域的测试结果;根据所述第一数据生成测试向量,包括:在根据所述第一数据,确定待测试区域中的全部或部分比特位在擦除前能够再写入数据的情况下,生成针对所述全部或部分比特位的测试向量。
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百度查询: 北京集创北方科技股份有限公司 闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备
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