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申请/专利权人：中国科学院理化技术研究所

摘要：本发明涉及材料发射率测量技术领域，尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统及方法。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置，真空泵和制冷装置分别与测试装置相连，测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台，样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片，各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各金属片上分别设有温度计，电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本发明提供的材料低温半球发射率的测试系统，可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量，可测量温度范围更大，进而提高了测量准确度。

主权项：1.一种材料低温半球发射率的测试系统，其特征在于：包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置，所述真空泵和所述制冷装置分别与所述测试装置相连；所述测试装置包括真空罩、设置在所述真空罩内部的屏蔽罩、设置在所述屏蔽罩内部的辐射屏罩以及悬挂设置在所述辐射屏罩内部的样品台，所述样品台包括电加热片以及分别设置在所述电加热片两侧的两个金属片，各所述金属片背向所述电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各所述金属片上分别设有温度计，所述电加热片和各所述温度计分别与所述控温装置相连；还包括机械热开关装置，所述机械热开关装置包括调节杆、固定盘和夹持机构，所述固定盘固定安装于所述真空罩的外部上方，所述夹持机构设置于所述辐射屏罩的内部；所述调节杆包括从上至下依次设置的调节杆上部、调节盘和调节杆下部，所述调节盘设置于所述真空罩的内部，所述调节杆上部的下端与所述调节盘固定连接，所述调节杆上部的上端穿过所述真空罩与所述固定盘螺纹连接，所述调节杆下部的上端与所述调节盘转动连接，所述调节杆下部的下端依次穿过所述屏蔽罩、所述辐射屏罩与所述夹持机构固定连接；所述调节杆下部对应所述屏蔽罩的顶板的位置处固设有限位块，所述屏蔽罩的顶板设有限制所述限位块进行上下移动的限位槽；所述夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部，所述固定部与所述调节杆下部的下端固定相连，所述固定部通过第一转动轴分别与两个所述第一连接板的上端转动连接，两个所述第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个所述第二连接板的上端对应转动连接，两个所述第二连接板通过第三转动轴相互交叉转动连接，两个所述第二连接板的下端分别与两个所述夹持部对应固定连接；两个所述定位板的上端分别与所述辐射屏罩的顶板固定连接，两个所述定位板的下端分别与所述第三转动轴的两端对应固定连接；还包括两个金属编织带，两个所述金属编织带的上端分别与所述辐射屏罩的顶板连接，两个所述金属编织带的下端分别与两个所述夹持部对应连接；所述样品台通过纤维线与所述辐射屏罩的顶板悬挂连接；在所述样品台的上方还设有补偿片，所述纤维线包括第一纤维线和第二纤维线，所述第一纤维线的两端分别与所述样品台、所述补偿片对应连接，所述第二纤维线的两端分别与所述补偿片、所述辐射屏罩的顶板对应连接。

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