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一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器 

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申请/专利权人:北京中电华大电子设计有限责任公司

摘要:本发明公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器,仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号,在FLASH擦写高压使能信号有效期间,若掉电数据随机化模块检测到接口掉电,则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据,并把此新数据写入存储器模块;若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电,则把接口原数据写入存储器模块。本发明仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求,支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能,方便软件程序调试和接口掉电功能测试,提高了开发和测试效率。

主权项:1.一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器,包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块,FLASH接口处理模块,与FLASH控制器接口相连,实现FLASH控制器擦命令、写命令和读命令的接口信号处理功能;FLASH接口处理模块输出高压使能HV_EN信号,控制掉电数据随机化模块和数据通路选择模块;数据通路选择模块,与FLASH接口处理模块、掉电数据随机化模块和读控制模块相连,实现擦写数据和读数据的通路控制功能;掉电数据随机化模块,与数据通路选择模块、擦写控制模块和读控制模块相连,实现FLASH擦写期间掉电生成随机数据值功能,或擦写期间未掉电保持接口原擦写数据值功能;擦写控制模块,与掉电数据随机化模块和存储器模块相连,实现FLASH擦写控制功能;读控制模块,与存储器模块、掉电数据随机化模块和数据通路选择模块相连,读取接口读地址的存储器模块数据,或是读取当前擦写地址的存储器模块数据;存储器模块,与擦写控制模块和读控制模块相连,实现数据的存储和读取功能;所述的掉电数据随机化模块,包括:掉电检测模块、复位控制模块、擦写数据处理模块和随机数生成模块,其中:掉电检测模块,检测接口掉电PORn信号和高压使能HV_EN信号的状态,输出随机化使能FILL_EN信号,实现接口掉电检测和控制功能;擦写数据处理模块,与随机数生成模块、擦写控制模块、读控制模块和数据通路选择模块相连,实现擦写数据的处理功能;复位控制模块,在PORn信号和FILL_EN信号控制下,输出高压复位HV_RST信号,实现对擦写控制模块的复位控制功能;随机数生成模块,与擦写数据处理模块相连,产生随机数;所述高压使能HV_EN信号为高电平时,表示当前正在进行FLASH擦写操作,掉电检测模块启动接口掉电检测功能,若检测到PORn信号发生掉电变为低电平,则掉电检测模块输出FILL_EN信号为高电平,启动数据随机化处理模块的掉电数据随机化功能产生随机化数据;若检测到PORn信号一直为高电平,则掉电检测模块输出FILL_EN信号为低电平,数据随机化处理模块的数据保持原数据值;当HV_EN信号为低电平时,表示当前未进行FLASH擦写操作,掉电检测模块不启动掉电检测功能,且输出FILL_EN信号为低电平;所述高压复位HV_RST信号,在FILL_EN信号为高电平期间,复位控制模块输出HV_RST信号为无效低电平,直到当前擦写操作完成后才变为有效高电平,复位擦写控制模块;在FILL_EN信号为低电平期间,复位控制模块输出的HV_RST信号与PORn信号同步变化。

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