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申请/专利权人：东风汽车集团股份有限公司
摘要：本发明公开一种车规级芯片可靠性测试系统、测试箱和测试控制方法，涉及芯片测试技术领域，其中车规级芯片可靠性测试系统包括：微控制器、芯片驱动板和环境模拟电路；芯片驱动板安装有多片车规级芯片；环境模拟电路用于搭建车规级芯片的测试环境模拟；微控制器用于发送第一测试信号至芯片驱动板；芯片驱动板在接收到第一测试信号时，输出第一驱动信号至车规级芯片，使车规级芯片在测试环境模拟中运行；芯片驱动板，采集车规级芯片工作中的电流信号，并将电流信号反馈至微控制器；微控制器，根据电流信号判断车规级芯片的工作状态。本发明通过上述系统解决传统测试设备并未实际模拟到芯片装车情况的问题。
主权项：1.一种车规级芯片可靠性测试系统，用于对多片车规级芯片进行测试，其特征在于，包括：微控制器、芯片驱动板和环境模拟电路；所述芯片驱动板分别与微控制器和环境模拟电路连接，所述芯片驱动板安装有多片车规级芯片；所述环境模拟电路，用于搭建所述车规级芯片的测试环境模拟；所述微控制器，用于发送第一测试信号至芯片驱动板；所述芯片驱动板，用于在接收到所述第一测试信号时，输出第一驱动信号至所述车规级芯片，使所述车规级芯片在所述测试环境模拟中运行；所述芯片驱动板，还用于采集所述车规级芯片工作中的电流信号，并将所述电流信号反馈至微控制器；所述微控制器，还用于根据所述电流信号判断所述车规级芯片的工作状态。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 东风汽车集团股份有限公司 车规级芯片可靠性测试系统、测试箱和测试控制方法
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