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申请/专利权人：深圳比特微电子科技有限公司
摘要：本公开涉及一种固件完整性验证方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取待验证固件；根据预设的反向终点偏移量，得到待验证固件中的反向终点字节位置；根据固件后段数据长度、预设的摘要数据长度和预设的位置参考数列，从位置参考数列中选出至少一个字节位置偏移量；根据反向终点字节位置和至少一个字节位置偏移量，得到待验证固件中的反向起点字节位置；从反向起点字节位置向反向终点字节位置的方向，根据至少一个字节位置偏移量，从待验证固件中得到摘要数据；将摘要数据与预设的验证数据进行比较，根据比较结果确定待验证固件是否完整。本公开提升了固件完整性验证效率，实现了利用较少硬件资源在较短时间内完成固件完整性验证。
主权项：1.一种固件完整性验证方法，其特征在于，包括：获取待验证固件；根据预设的反向终点偏移量，得到所述待验证固件中的反向终点字节位置；根据固件后段数据长度、预设的摘要数据长度和预设的位置参考数列，从所述位置参考数列中选出至少一个字节位置偏移量，其中，所述固件后段数据长度为从所述反向终点字节位置到所述待验证固件尾部字节位置的数据长度，所述位置参考数列由多个字节位置偏移量组成；根据所述反向终点字节位置和所述至少一个字节位置偏移量，得到所述待验证固件中的反向起点字节位置；从所述反向起点字节位置向所述反向终点字节位置的方向，根据所述至少一个字节位置偏移量，从所述待验证固件中得到摘要数据；将所述摘要数据与预设的验证数据进行比较，根据比较结果确定所述待验证固件是否完整。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳比特微电子科技有限公司 固件完整性验证方法、装置、电子设备和存储介质
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