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申请/专利权人:北京超摩科技有限公司
摘要:本申请提供了一种芯片和多芯粒协同调试系统,涉及集成电路技术领域。该芯片中设置有多个芯粒,每个芯粒中设置有芯粒互联接口,多个芯粒之间通过芯粒互联接口连接,每个芯粒中还设置有调试接口、核心视野系统和系统总线,核心视野系统包括接口总线;在每个芯粒中,调试接口与接口总线连接,接口总线与芯粒互联接口连接,芯粒互联接口与系统总线连接。该芯片可以减少调试过程中所需的上位机数量,可以简化调试过程,降低调试难度。
主权项:1.一种芯片,其特征在于,所述芯片中设置有多个芯粒;每个所述芯粒中设置有芯粒互联接口,所述多个芯粒之间通过所述芯粒互联接口连接;每个所述芯粒中还设置有调试接口、核心视野系统和系统总线,所述核心视野系统包括接口总线;在每个所述芯粒中,所述调试接口与所述接口总线连接,所述接口总线与所述芯粒互联接口连接,所述芯粒互联接口与所述系统总线连接。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京超摩科技有限公司 一种芯片和多芯粒协同调试系统
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