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使用光学上可感知的几何元素的可测量参数的比值来校准尺寸量定器 

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申请/专利权人:手持产品公司

摘要:本发明涉及使用光学上可感知的几何元素的可测量参数的比值来校准尺寸量定器。提供了用于校准体积尺寸量定器的系统和方法。在一个实施例中,一种校准系统包括预定义的参考图案,该预定义的参考图案包括多个光学上可感知的元素。所述光学上可感知的元素具有预定义的可测量参数并且彼此分开预定义的距离。校准系统还包括尺寸量定器,其被配置成捕获对象的图像并且至少根据所捕获的图像来计算该对象的物理尺寸。尺寸量定器进一步被配置成捕获预定义的参考图案的一个或多个图像以及计算预定义的可测量参数中的一个与预定义的距离中的一个之间的比值。尺寸量定器进一步被配置成基于所计算出的比值而被校准。

主权项:1.一种用于校准尺寸量定器的系统,包括:预定义的参考图案,其包括多个光学上可感知的元素,所述光学上可感知的元素至少包括第一光学上可感知的元素和第二光学上可感知的元素,其中所述第一光学上可感知的元素具有第一预定义的尺寸并且所述第二光学上可感知的元素具有第二预定义的尺寸,其中所述第一光学上可感知的元素和所述第二光学上可感知的元素彼此分开第一预定义的距离;以及尺寸量定器,其被配置成:确定对象的至少一个尺寸;根据由所述尺寸量定器捕获的预定义的参考图案的一个或多个图像测量所述第一预定义的尺寸;测量所述第一和所述第二光学上可感知的元素之间的所述第一预定义的距离,其中所述尺寸量定器进一步被配置成计算所述第一光学上可感知的元素的所述经测量的第一预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离之间的第一比值;根据由所述尺寸量定器捕获的预定义的参考图案的一个或多个图像测量所述第二预定义的尺寸;计算所述第二光学上可感知的元素的所述经测量的第二预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离的第二比值;以及其中所述尺寸量定器进一步被配置成基于所计算出的第一比值和所计算出的第二比值进行校准。

全文数据:

权利要求:

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