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一种摆扫型大幅宽高光谱成像方法 

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申请/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要:本发明属于高光谱成像方法,为解决目前星载高光谱成像仪载荷均为推扫成像,由于推扫成像相较摆扫成像幅宽指标较低,只能通过外拼接或者增大成像视场的方式提高幅宽指标的技术问题,提供一种摆扫型大幅宽高光谱成像方法,通过扫描反射镜沿幅宽方向对目标信号进行穿轨方向物方多元摆扫,扫描反射镜多次摆扫运动进行多次扫描,每一次摆扫运动时,正向扫描后反向运动回到起始扫描位置,同时,在正向扫描过程中通过高光谱成像仪对目标信号进行高光谱成像,可以使得仪器幅宽大幅提高,能够有效克服现有光谱成像仪推扫成像幅宽受限的问题。

主权项:1.一种摆扫型大幅宽高光谱成像方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,搭建光学系统沿光路设置扫描反射镜1、成像系统和光电探测器4,完成光学系统搭建;所述成像系统包括干涉仪2和傅里叶成像镜3;所述光学系统,根据预计达到的幅宽、空间分辨率和光谱分辨率确定光学系统的光学参数,再根据光学系统的光学参数确定扫描反射镜1的光学件外形尺寸;所述光学系统的光学参数和所述扫描反射镜1的光学件外形尺寸具体通过如下方式得到:S1.1,根据预计达到的幅宽和空间分辨率确定光电探测器4规格,所述光电探测器4规格包括光电探测器4的像元数和像元大小;S1.2,根据光电探测器4的像元数、预计达到的空间分辨率和卫星轨道高度确定光学系统焦距和光学系统口径;S1.3,根据预计达到光谱分辨率、光学系统焦距和光学系统口径,确定成像系统中干涉仪2的波段范围、剪切量、采样点数和干涉仪2大小;S1.4,根据光学系统口径确定光学系统中扫描反射镜1的外形尺寸;S2,光谱成像通过扫描反射镜1沿幅宽方向对目标信号进行穿轨方向物方多元摆扫,扫描反射镜1多次摆扫运动进行多次扫描,每一次摆扫运动时,正向扫描后反向运动回到起始扫描位置,同时,在正向扫描过程中通过高光谱成像仪对目标信号进行高光谱成像,获得一个条带图像数据;其中,将卫星飞行方向中卫星星下点速度矢量V1和第一扫描时间t1内扫描反射镜1摆扫速度矢量V3合成,得到沿地物横向方向扫描速度矢量V2;所述第一扫描时间t1为每一次摆扫运动时正向扫描的时间,其根据预计达到的幅宽和扫描行重叠要求确定;S3,数据处理S3.1,将扫描反射镜1多次扫描获得的多个条带图像数据进行拼接,获得地物图像;S3.2,通过光电探测器4对获取的地物图像进行处理,得到矩形的地面投影目标。

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权利要求:

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