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申请/专利权人：深圳市芯存科技有限公司
摘要：本发明涉及计算机技术领域，提供一种DDR存储单元的故障定位分析方法、系统、存储介质和终端，方法包括：基于多层次连通性检测器对待测DDR存储单元进行多层次连通性被动检测，得到第一故障定位分析结果；基于进程状态检测器进行进程状态检测，得到第二故障定位分析结果；向待测DDR存储单元发送第一测试报文，得到回包结果；基于多层次连通性检测器进行多层次连通性主动检测，得到第三故障定位分析结果；基于状态卫生检测器进行状态卫生检测，得到最终故障定位分析结果，进而得到最终故障定位分析结果。本发明引入了多层次连通性检测、进程状态、状态卫生检测三大类检测器对DDR存储单元进行故障定位分析，提高故障定位的准确性。
主权项：1.一种DDR存储单元的故障定位分析方法，其特征在于，包括：基于预先构建的多层次连通性检测器对待测DDR存储单元进行多层次连通性被动检测，得到第一故障定位分析结果；在所述第一故障定位分析结果为无异常的情况下，基于预先构建的进程状态检测器进行进程状态检测，得到第二故障定位分析结果；在所述第二故障定位分析结果为无异常的情况下，向所述待测DDR存储单元发送第一测试报文，得到回包结果；在所述回包结果为无异常的情况下，基于所述多层次连通性检测器进行多层次连通性主动检测，得到第三故障定位分析结果；在所述第三故障定位分析结果为无异常的情况下，基于预先构建的状态卫生检测器进行状态卫生检测，得到最终故障定位分析结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市芯存科技有限公司 DDR存储单元的故障定位分析方法、系统、存储介质和终端
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