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申请/专利权人：华翊博奥(北京)量子科技有限公司
摘要：本文公开一种实现状态探测的方法及装置，包括：通过全局探测激光照射三维离子量子比特阵列；调整成像系统焦平面，以获得全局探测激光照射每一层三维离子量子比特阵列的第一荧光成像；根据获得的第一荧光成像，确定三维离子量子比特阵列中每一个离子量子比特的状态信息。本发明实施例通过调整成像系统焦平面，获取每一层三维离子量子比特阵列的第一荧光成像，通过获取的第一荧光成像确定每一个离子量子比特的状态，实现了三维离子量子比特阵列的状态探测，为实现大规模离子量子计算提供了技术支持。
主权项：1.一种实现状态探测的方法，包括：通过全局探测激光照射三维离子量子比特阵列；调整成像系统焦平面，以获得全局探测激光照射每一层三维离子量子比特阵列的第一荧光成像；根据获得的第一荧光成像，确定三维离子量子比特阵列中每一个离子量子比特的状态信息；其中，所述调整成像系统焦平面，包括：通过改变变焦透镜的有效焦距，调整所述成像系统焦平面。
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