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申请/专利权人：克拉诺瓦公司

摘要：本发明涉及一种切割装置，其包括：‑激光源1，其用于以脉冲的形式发射初始激光光束11，‑整形系统2，其位于飞秒激光器1的下游，用于将初始激光光束11转变为单束经相位调制的激光光束，‑激光源1与整形系统2之间的光耦合器3，所述光耦合器3包括光纤31，其特征在于，切割装置进一步包括偏振校正器7，用于改变初始激光光束11在光耦合器3的输入端的偏振，使得激光光束在光耦合器3的输出端的偏振对应于所需参考偏振。

主权项：1.一种用于切割角膜或晶状体的装置，所述装置包括：-激光源1，其用于以脉冲形式发射治疗激光光束11，-整形系统2，即空间光调制器SLM，其位于激光源1的下游，用于将治疗激光光束11转变为单束经相位调制的治疗激光光束，整形系统2能够根据计算出的调制设定值来调制治疗激光光束11的波前相位，以将单束经调制的治疗激光光束的能量分布于焦平面81上形成图案的至少两个冲击点，-激光源1与整形系统2之间的光耦合器3，-扫描光学扫描仪4，其位于整形系统2的下游，用于沿着焦平面81内的预定义的移动路径移动图案，-光学聚焦系统5，其位于扫描光学扫描仪4的下游，用于在所需组织的切割平面中移动经调制的激光光束的焦平面81，-控制单元6，其用于驱动激光源1、整形系统2、光耦合器3、扫描光学扫描仪4和光学聚焦系统5，其特征在于：-光耦合器包括光子晶体光纤31，其特征还在于，-所述装置进一步包括偏振校正器7，其用于改变光耦合器3上游的治疗激光光束11的偏振，使得光耦合器3下游的治疗激光光束11的偏振对应于所需参考偏振，其中所述所需参考偏振等同于治疗激光光束11在穿过偏振校正器7和光耦合器3之前的激光源1的输出处的偏振，所述偏振校正器7安装在激光源1和整形系统2之间并且包括：●用于测量光耦合器3的输入端与光耦合器3的输出端之间的偏振变化的测量装置71，所述测量装置71光学连接至光耦合器3的输出端，所述测量装置71能够根据激光源1产生的测量激光光束12来测量治疗激光光束11的偏振变化，测量激光光束12的强度低于治疗激光光束11的强度，所述测量装置71包括：■偏振器711，其用于对测量激光光束12的偏振面进行滤波，以及■偏振分析仪712，其安装于偏振器711的下游，用于测量表示测量激光光束12在光耦合器3的输出处的偏振的信息，●用于改变光耦合器3上游的治疗激光光束11的偏振以补偿测量出的偏振变化的装置72。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 克拉诺瓦公司 具有包括偏振校正器的光耦合器的切割装置