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基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备 

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申请/专利权人:江东电子材料有限公司;汇弘睿光电科技(苏州)有限公司

摘要:本申请提供一种基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备。该方法包括:电子设备可以从摄像头中获取摄像头拍摄得到的每一铜箔的采样图片。电子设备可以将该采样图片输入到异常点检测算法中。电子设备可以通过该异常点检测算法实现该铜箔的质量检测,确定该铜箔表面是否包括异常点,从而确定铜箔的质量指标和异常点信息。电子设备可以根据铜箔的质量指标和异常点信息,生成控制指令,控制指令用于指示铜箔处理机对不同质量的铜箔进行不同处理。本申请的方法,提高了该铜箔的异常检测效率,提高了异常铜箔的处理效率。

主权项:1.一种基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法,其特征在于,所述方法,包括:获取铜箔的采样图片;根据所述采样图片和异常点检测算法,检测得到所述铜箔的质量指标和异常点信息;根据所述铜箔的所述质量指标和所述异常点信息,生成控制指令,所述控制指令用于指示铜箔处理机对不同质量的所述铜箔进行不同处理;所述根据所述采样图片和异常点检测算法,检测得到所述铜箔的质量指标和异常点信息,包括:使用轮廓检测算法,从所述铜箔的所述采样图片中,裁剪得到所述铜箔的目标图片;使用不同异常的异常点检测算法,从所述铜箔的所述目标图片中检测得到所述铜箔的异常点信息;根据所述铜箔所述异常点信息,确定所述铜箔的质量指标;所述使用不同异常的异常点检测算法,从所述铜箔的所述目标图片中检测得到所述铜箔的异常点信息,包括:根据HSV色彩通道和RGB色彩通道,获取所述目标图片的六个通道的颜色图片;使用不同异常的异常点检测算法,从每一所述颜色图片中检测得到所述铜箔在所述异常点检测算法对应的异常的至少一个异常点;合并所述目标图片的同一个异常点检测算法的多个所述颜色图片的所述异常点,得到所述目标图片在所述异常的异常点信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江东电子材料有限公司 汇弘睿光电科技(苏州)有限公司 基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备

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