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在用于快速光学检查目标的系统中实现的光学系统 

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申请/专利权人:ASML荷兰有限公司

摘要:该系统包括光学设备、反射设备、可移动反射设备和检测器。光学设备被设置在第一平面处并围绕系统的轴线,以及接收来自目标的散射辐射。反射设备至少被设置在第二平面处并围绕轴线。每个反射设备接收来自对应光学设备之一的散射辐射。可移动反射设备沿轴线设置并接收来自每个反射设备的散射辐射。检测器接收来自可移动反射设备的散射辐射。

主权项:1.一种系统,包括:光学设备,被设置在第一平面处并围绕所述系统的轴线,并且被配置为接收来自目标的散射辐射;反射设备,被设置在至少第二平面处并围绕所述轴线,所述反射设备中的每个反射设备被配置为接收来自所述光学设备中的对应的一个光学设备的所述散射辐射;可移动反射设备,沿所述轴线设置并且被配置为接收来自所述反射设备的每个反射设备的所述散射辐射;以及检测器,被配置为接收来自所述可移动反射设备的所述散射辐射。

全文数据:

权利要求:

百度查询: ASML荷兰有限公司 在用于快速光学检查目标的系统中实现的光学系统

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