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申请/专利权人：湘潭大学
摘要：本发明公开了一种PIN半导体探测器开启电压的自校准测量方法，属于半导体技术领域，包括以下步骤：对PIN半导体探测器进行变温开启电压实验，获取PIN半导体探测器的工作温度与正向开启电压的对应关系；实时获取PIN半导体探测器上施加的正向开启电压大小；根据PIN半导体探测器工作温度与正向开启电压的对应关系，确定当前PIN半导体探测器的工作温度，并计算确定当前PIN半导体探测器的反向暗电流大小；根据计算得到的反向暗电流大小对PIN半导体探测器的信号电流进行校准。本发明无需外加温度检测模块即可实现PIN半导体探测器的内部工作温度自检测，简化了探测系统，增加了系统可靠性。
主权项：1.一种PIN半导体探测器开启电压的自校准测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：对PIN半导体探测器进行变温开启电压实验，获取PIN半导体探测器的工作温度与正向开启电压的对应关系；S2：实时获取PIN半导体探测器上施加的正向开启电压大小；S3：根据PIN半导体探测器工作温度与正向开启电压的对应关系，确定当前PIN半导体探测器的工作温度，并计算确定当前PIN半导体探测器的反向暗电流大小；S4：根据计算得到的反向暗电流大小对PIN半导体探测器的信号电流进行校准。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湘潭大学 一种PIN半导体探测器开启电压的自校准测量方法
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