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InAs量子点激光器及其制备方法 

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申请/专利权人:苏州旭创科技有限公司

摘要:本申请公开了一种InAs量子点激光器及其制备方法。InAs量子点激光器包括依次层叠的GaAs衬底、下包覆层、多个InAs量子点有源区和上包覆层;各InAs量子点有源区包括依次层叠的第一InGaAs量子井层、量子点层、第二InGaAs量子井层以及GaAs间隔层;其中,量子点层中无掺杂源,各InAs量子点有源区的GaAs间隔层的平均厚度为10~50nm。本申请中量子点层中无掺杂源,通过合理控制各GaAs间隔层的平均厚度,使得量子点的均匀性逐渐提升,线展宽因子降低,激光器的抗反射性能就更强。其中,抗反射性能至少可以提升至‑10dB以上,如此就能够将光模块中的隔离器移除,以解决具有隔离器的光模块导致体积大、成本高、集成度低的技术问题。

主权项:1.一种InAs量子点激光器,其特征在于,包括依次层叠的GaAs衬底、下包覆层、多个InAs量子点有源区和上包覆层;各所述InAs量子点有源区均包括依次层叠的第一InGaAs量子井层、量子点层、第二InGaAs量子井层以及GaAs间隔层;其中,所述量子点层中无掺杂源,各所述InAs量子点有源区的GaAs间隔层的平均厚度为10~50nm。

全文数据:

权利要求:

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