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PCIE槽测试装置和方法 

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申请/专利权人:浪潮计算机科技有限公司

摘要:本申请提供了一种PCIE槽测试装置和方法,涉及测试技术领域,旨在提升测试效率。该装置包括:FPGA、显示模块和连接器;FPGA集成了多种测试功能;连接器,用于与PCIE槽进行连接,并获取PCIE槽的信号;FPGA,用于从连接器获取PCIE槽的信号,并根据PCIE槽的信号,对PCIE槽的关键特性进行测试,得到测试数据;PCIE槽的关键特性至少包括以下任意一项或多项:电源稳定性、时序特性、时钟参数和信号连通性;显示模块,用于对测试数据进行可视化展示。

主权项:1.一种PCIE槽测试装置,其特征在于,包括:FPGA、显示模块和连接器;所述FPGA集成了多种测试功能;所述连接器,用于与PCIE槽进行连接,并获取所述PCIE槽的信号;所述FPGA,用于从所述连接器获取所述PCIE槽的信号,并根据所述PCIE槽的信号,对所述PCIE槽的关键特性进行测试,得到测试数据;所述PCIE槽的关键特性至少包括以下任意一项或多项:电源稳定性、时序特性、时钟参数和信号连通性;所述显示模块,用于对所述测试数据进行可视化展示。

全文数据:

权利要求:

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