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上行覆盖的测量方法和装置、存储介质及电子装置 

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申请/专利权人:三维通信股份有限公司

摘要:本发明公开了一种上行覆盖的测量方法和装置、存储介质及电子装置,其中,上述方法包括:接收基站测量请求,其中,基站测量请求用于请求对目标基站的上行覆盖数据进行测量;响应基站测量请求,调整目标基站的下行参数,得到目标下行参数;在目标下行参数表征了目标基站的上行覆盖与下行覆盖之间匹配的情况下,通过测量目标基站的下行覆盖数据确定目标基站的上行覆盖数据。采用上述技术方案,解决了相关技术中,测量基站的上行覆盖数据的效率较低等问题。

主权项:1.一种上行覆盖的测量方法,其特征在于,包括:接收基站测量请求,其中,所述基站测量请求用于请求对目标基站的上行覆盖数据进行测量;响应所述基站测量请求,调整所述目标基站的下行参数,得到目标下行参数;在所述目标下行参数表征了所述目标基站的上行覆盖与下行覆盖之间匹配的情况下,通过测量所述目标基站的下行覆盖数据确定所述目标基站的所述上行覆盖数据;其中,所述调整所述目标基站的下行参数,得到目标下行参数,包括:在所述目标基站的覆盖范围内检测所述目标基站的上行覆盖参数,得到第一测量值;从具有对应关系的上行覆盖参数目标值和下行覆盖参数目标值中查找所述第一测量值,得到查找结果,其中,上行覆盖参数和下行覆盖参数之间具有所述对应关系的基站的上行覆盖与下行覆盖之间是匹配的;根据所述查找结果调整所述目标基站的发射功率,得到目标发射功率,其中,所述目标基站的下行参数包括所述发射功率;其中,所述根据所述查找结果调整所述目标基站的发射功率,得到目标发射功率,包括:在所述查找结果用于指示查找到所述第一测量值的情况下,获取当前检测位置上所述目标基站的下行覆盖参数得到第二测量值,并获取所述第一测量值所对应的下行覆盖参数目标值得到参考目标值;根据所述第二测量值与所述参考目标值之间的差值调整所述目标基站的发射功率,直至在所述当前检测位置上检测到的下行覆盖参数测量值与所述参考目标值一致;其中,所述在所述目标基站的覆盖范围内检测所述目标基站的上行覆盖参数,得到第一测量值,包括:在所述目标基站的覆盖范围内控制终端设备以最大功率发射第一测试信号;检测所述第一测试信号产生的上行覆盖参数,得到所述第一测量值,其中,所述上行覆盖参数包括以下至少之一:误码率、MCS阶数、峰值速率。

全文数据:

权利要求:

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