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一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法及装置 

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申请/专利权人:华中科技大学;深圳华中科技大学研究院

摘要:本发明公开了一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法及装置,属于成像技术领域。该方法包括:将磁纳米粒子注入成像视野区域中的待测样品;对待测样品进行光扫描,获取随机状态下的待测样品中磁纳米粒子的浊度A0;对成像视野区域施加激励磁场,磁纳米粒子沿着磁场定向排列,得到磁定向状态下的待测样品;计算两个状态下待测样品的浊度的差值ΔA,并计算得到待测样品中磁纳米粒子的浓度C;根据磁纳米粒子的浓度分布数据,得到磁纳米粒子的二维空间分布成像。该方法的成像方式实现原理简单,在不同光波段下均可实现,在成像的空间分辨率上不存在瓶颈限制;实现低成本、高分辨的无损成像,并且扩展了成像方法的适用场景。

主权项:1.一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法,其特征在于,包括:S1、将磁纳米粒子注入成像视野区域中的待测样品,得到随机状态下的待测样品;S2、对随机状态下的待测样品进行光扫描,获取随机状态下的待测样品中磁纳米粒子的浊度记为A0;S3、对所述成像视野区域施加激励磁场,所述磁纳米粒子沿着磁场定向排列,得到磁定向状态下的待测样品,测量得到其浊度记为AH;S4、计算两个状态下待测样品的浊度的差值ΔA=AH-A0,并计算得到所述待测样品中各位置的磁纳米粒子的浓度c,得到磁纳米粒子的浓度分布数据;S5、根据磁纳米粒子的浓度分布数据,得到所述磁纳米粒子的二维空间分布成像。

全文数据:

权利要求:

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