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申请/专利权人：升巍科技(深圳)有限公司

摘要：本发明公开了一种光学微纳薄膜生产监控系统及方法，涉及光学薄膜技术领域，包括参数一次获取模块、参数一次分析模块、参数初步调节模块、参数二次分析模块和参数最终调节模块，输出成品参数一次分析结果，根据成品参数一次分析结果对当前生产参数进行一次采集，输出生产参数一次采集数据，输出生产参数一次分析结果，根据成品参数二次分析结果对生产参数二次采集数据进行分析，输出生产参数二次分析结果，对挤料模口的间隙和冷却风环进行分析和调控，通过双重参数采集与分析，实时优化薄膜生产参数，确保产品质量与生产稳定性，自动化程度高，减少人为误差，提高生产效率与资源利用率，为技术创新提供数据支持，推动薄膜生产工艺的持续进步。

主权项：1.一种光学微纳薄膜生产监控系统，其特征在于，包括参数一次获取模块、参数一次分析模块、参数初步调节模块、参数二次分析模块和参数最终调节模块：所述参数一次获取模块用于对当前光学微纳薄膜的成品参数进行一次采集，输出成品参数一次采集数据，所述成品参数一次采集数据包括一次采集薄膜厚度数据和一次采集表面粗糙程度数据，将成品参数一次采集数据与预设的标准成品参数数据进行一次对比，输出成品参数一次对比结果，对成品参数一次对比结果进行分析，输出成品参数一次分析结果，根据成品参数一次分析结果对当前生产参数进行一次采集，输出生产参数一次采集数据，所述生产参数一次采集数据包括当前拉伸牵引速度和当前挤料模口温度；所述参数一次分析模块用于根据对生产参数一次采集数据进行分析，输出生产参数一次分析结果，所述生产参数一次分析结果包括薄膜拉伸牵引机控制信号和挤料模口温度控制信号；所述参数初步调节模块用于根据生产参数一次分析结果对薄膜拉伸牵引机的牵引速度和挤料模口的温度进行调控；所述参数二次分析模块用于对经参数初步调节模块调控后的生产线上的光学微纳薄膜的当前成品参数进行二次采集，输出成品参数二次采集数据，所述成品参数二次采集数据包括二次采集薄膜厚度数据和二次采集表面粗糙程度数据，将成品参数二次采集数据与预设的标准成品参数数据进行二次对比，输出成品参数二次对比结果，对成品参数二次对比结果进行分析，输出成品参数二次分析结果，根据成品参数二次分析结果对当前生产参数进行二次采集，输出生产参数二次采集数据，所述生产参数二次采集数据包括当前挤料模口间隙数据和当前冷却风环通风量数据，根据成品参数二次分析结果对生产参数二次采集数据进行分析，输出生产参数二次分析结果，所述生产参数二次分析结果包括挤料模口间隙一次控制信号和冷却风环控制信号；所述参数最终调节模块用于对挤料模口的间隙和冷却风环进行分析和调控。

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