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申请/专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法，包括信号源、DAC模块、被测MCU芯片和上位机系统。信号源用于ADC动态参数测试，DAC模块生成测试信号。被测MCU芯片通过信号通路选择电路连接至信号源和DAC模块。上位机系统控制设备，接收和处理数据，实现ADC不同通道的测试。本发明优化了流片阶段MCU片上ADC模块测试程序，缩短了测试时长。通过上位机对电源的精准控制，可获取不同电压点的测试数据，评估性能参数。借助上位机程序，可快速直观地获得测试数据的分析结果，反映潜在问题。
主权项：1.一种MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统，其特征在于，包括信号源，用于ADC动态参数测试信号产生，经过信号通路选择模块，输入至相应的ADC通道从而进行测试；DAC模块，生成DC阶梯信号测试ADC静态参数，生成正弦信号测试ADC动态参数，信号通过信号通路选择模块或直接连至ADC通道；被测MCU芯片，其ADC通道通过信号通路选择电路连接至所述信号源以及所述DAC模块；上位机系统，用于设备控制，进行数据接收和数据处理，并通过更改被测ADC的信号通路，实现ADC不同通道的测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湖南进芯电子科技有限公司 MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法
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