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申请/专利权人：武汉联影生命科学仪器有限公司
摘要：本发明提供一种K‑edge鉴别能力参数表的获取及应用方法，获取方法包括以下步骤：调节探测器预设的能量阈值；选择不同材料的待测模体至检测区域内；鉴别测试选定的待测模体；探测器在不同的能量阈值下获得穿过不同材料的待测模体的能量信号；根据多个能量信号，计算得到不同材料的待测模体在不同的能量阈值段内的质量衰减系数，形成不同待测模体的质量衰减曲线；汇总多个待测模体的质量衰减曲线，形成K‑edge鉴别能力参数表。通过本方法获得多种不同材料实际且精确的K‑edge鉴别能力参数表，即获得该探测器的对多种不同材料K‑edge的鉴别能力，有效降低理论计算和真实测量之间的误差，为K‑edge成像等能谱应用提供可靠精确的参数选择依据，优化K‑edge成像的应用效果。
主权项：1.一种K-edge鉴别能力参数表的应用方法，其特征在于，所述K-edge鉴别能力参数表的应用方法包括以下步骤：调节探测器（300）预设的能量阈值；预设的能量阈值的范围为待测模体（20）的K-edge理论能量值±30keV；选择不同材料的待测模体（20）至检测区域（3001）内；鉴别测试选定的待测模体（20）；探测器（300）在不同的预设能量阈值下获得穿过不同材料的待测模体（20）的能量信号；根据多个所述能量信号，计算得到不同材料的待测模体（20）在不同的预设能量阈值段内的质量衰减系数，形成不同待测模体（20）的质量衰减曲线；每测试一种待测模体（20），以与测试待测模体（20）相同的测试条件对对比模体（50）进行测试，并基于所述对比模体（50）的能量信号修正每个所述待测模体（20）的质量衰减系数；汇总多个待测模体（20）修正后的质量衰减曲线，形成所述探测器（300）对不同材料的K-edge鉴别能力参数表；确定K-edge成像用途；确定待测物材料；根据待测物的材料和K-edge鉴别能力参数表，选取与待测物材料对应的质量衰减曲线；根据与待测物材料对应的质量衰减曲线，推荐与待测物K-edge成像用途相应的能量阈值参数；根据推荐的所述能量阈值参数和不同的用途需求，调节所述能量阈值参数。
全文数据：
权利要求：
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