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一种陶瓷生瓷片表面测量方法及测量系统 

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申请/专利权人:广东先导元创精密科技有限公司

摘要:本发明涉及半导体产品表面测量技术领域,公开了一种陶瓷生瓷片表面测量方法及测量系统,该测量方法包括步骤:S1、光线对陶瓷生瓷片的表面进行照射;S2、拍摄所述陶瓷生瓷片的表面实时图像,在所述实时图像上确定多个取点区域,在各个所述取点区域内选取检测点,测得各所述检测点的实时亮度值;S3、将各所述检测点的实时亮度值与标准亮度阈值的取值范围进行对比,若各所述检测点的实时亮度值均落入所述标准亮度阈值的取值范围,所述陶瓷生瓷片为良品,反之,则为不良品。本发明的有益效果:提高陶瓷生瓷片的外观检测效率,简化检测过程,降低工人劳动强度,提高生产效率。

主权项:1.一种陶瓷生瓷片表面测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、光线对陶瓷生瓷片的表面进行照射;S2、拍摄所述陶瓷生瓷片的表面实时图像,在所述实时图像上确定多个取点区域,在各个所述取点区域内选取检测点,测得各所述检测点的实时亮度值;S3、将各所述检测点的实时亮度值与标准亮度阈值的取值范围进行对比,若各所述检测点的实时亮度值均落入所述标准亮度阈值的取值范围,所述陶瓷生瓷片为良品,反之,则为不良品。

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权利要求:

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