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申请/专利权人：华为技术有限公司
摘要：本申请公开了一种浮点精度检测方法与装置，涉及芯片技术领域，能够解决现有浮点精度检测方法效率低、实现复杂的问题。其方法为：以待检测的第一浮点数作为被测对象，并确定被测对象的第一参照对象和第二参照对象，第二参照对象为对被测对象叠加扰动后得到的；将被测对象、第一参照对象和第二参照对象分别输入算子进行计算，获取被测对象的被测结果、第一参照对象的参照结果以及第二参照对象的扰动结果；根据被测结果、参照结果以及扰动结果确定可接受的扰动误差范围，确定被测结果是否在可接受的扰动误差范围内。本申请实施例用于低精度与高精度、或同精度对象的精度对比检测。
主权项：1.一种浮点精度检测方法，其特征在于，包括：以待检测的第一浮点数作为被测对象，并确定所述被测对象的第一参照对象和第二参照对象，所述第二参照对象为对所述被测对象叠加扰动后得到的；将所述被测对象、所述第一参照对象和所述第二参照对象分别输入算子进行计算，获取所述被测对象的被测结果、所述第一参照对象的参照结果以及所述第二参照对象的扰动结果；根据所述被测结果、所述参照结果以及所述扰动结果确定可接受的扰动误差范围，确定所述被测结果是否在所述可接受的扰动误差范围内。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华为技术有限公司 一种浮点精度检测方法与装置
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