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申请/专利权人：杭州中安电子股份有限公司
摘要：本发明涉及一种芯片测试设备及测试方法，测试方法包括以下步骤：判断是否为散料芯片，若是，则对料盘中的所有芯片进行识别，确定芯片摆放方向，判读各所述芯片的摆放方向是否正确；将料盘中摆放方向正确的芯片和摆放方向错误的芯片进行分离，仅对摆放方向正确的芯片进行测试；将摆放方向错误的芯片重新上料至另一料盘；重复上述步骤，直至将所有芯片测试完成。设备包括料盘移动装置、识别相机、IC测试装置、老化板测试安装装置、芯片编带装置、芯片搬运装置，通过各装置之间的配合实现芯片的测试。本发明能够解决散料芯片在测试之前摆放方向不稳定的问题，使得参加测试的芯片均是摆放正确的芯片，从而保证芯片测试的稳定性和准确性。
主权项：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：判断是否为散料芯片，若是，则对料盘中的所有芯片进行识别，确定所有芯片的摆放方向，判读各所述芯片的摆放方向是否正确；将料盘中摆放方向正确的芯片和摆放方向错误的芯片进行分离，仅对摆放方向正确的芯片进行测试；发出提示，以将摆放方向错误的芯片重新混入芯片上料机构，重新上料至另一料盘；重复上述步骤，直至将所有芯片测试完成。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州中安电子股份有限公司 一种芯片测试设备及测试方法
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